高斯計也稱為特斯拉計，通常用作表面磁性的測量工具。下圖是廣泛使用的日本KANETEC高斯計。
高斯計的工作原理主要基於霍爾效應的應用：當載有電流-的導體置於磁場中時，由於洛倫茲力的作用，在垂直於磁場和電流的方向上會出現橫向電位差。高斯計是根據霍爾效應原理測量磁場的儀器。霍爾探頭由於磁場中的霍爾效應而產生霍爾電壓。測量儀器根據霍爾電壓和已知的霍爾係數轉換磁場強度值。
目前的高斯計 一般配備單向霍爾探頭，只能測量一個方向的磁場強度，即只能測量垂直於霍爾晶片方向的磁場強度。在一些高端測量領域，也有可以測量三維磁場的霍爾探頭。 -透過測量儀器的轉換，可以同時顯示X、Y、Z軸方向的磁場強度。透過三角換算可以得到最大磁場強度。
高斯計一般可以測量直流磁場和交流磁場。單位一般可以切換顯示高斯單位Gs或國際單位毫雷射mT。其中測量直流磁場是業界應用最多的。
如果您需要測量即時磁場，則需要使用 real 函數。-顯示幕將顯示即時磁場值和極性。 -
當測量過程中需要捕捉峰值磁場和對應的極性時，就需要使用保持功能。
如下圖所示，顯示幕將顯示“hold”。顯示的值和極性是捕獲的峰值磁場及其對應的極性。如果沒有顯示，則為真實功能。您也可以使用MODE按鈕切換到交流磁場測試模式。螢幕上出現“~”符號，如下圖所示。
使用高斯計時應注意的事項：
1. 使用高斯計測量表面磁力時，請勿過度彎曲探頭。一般應將末端的霍爾晶片輕輕壓在磁體表面上。這樣一方面確保測量點固定，另一方面確保探頭與測量表面緊密接觸。 ，應與測量面齊平，但不要用力按壓。
2、霍爾晶片兩面皆可感應，但數值和極性不同。刻度面用於方便測量，不能作為測量面。非-刻度面是測量表面。
高斯計測量預設垂直測量表面的磁場強度Bz。下圖是普通Z-軸充磁磁體的模擬圖。可以看出，磁場是一個向量，Z-軸的磁場強度可以認為是Bz=，由於轉角處的磁路路徑最短，所以轉角處的磁力線會更密，磁場強度B會比中心強，但Bz不一定比中心強。這只是霍爾晶片測量面積的限制。一般情況下，都是測量邊角的。磁場強度比中心強，至少不低於中心磁場。
這裡要特別注意的是，當磁化方向不同時，即使在同一測量面上，測量值的差異也很大。
對於需要測量動態或需要將不同測量位置的磁場擬合成波形曲線的情況，就需要磁場掃描器。還是需要透過單向或三維-霍爾晶片進行測量，然後透過測量軌跡的設計和資料擷取來輸出磁場測量曲線。